SEM掃描電鏡的幾種樣品制備方法介紹
日期:2024-01-29 14:07:16 瀏覽次數(shù):116
掃描電鏡的樣品制備方法因樣品類型和觀察目的的不同而有所不同,以下是幾種常用的制備方法:
塊狀樣品制備:對于塊狀樣品,如金屬、陶瓷等,通常采用導電膠帶或液體導電膠將其固定在樣品臺上。對于低倍率觀察(<5萬倍),可以使用導電膠帶;對于高倍率觀察(>5萬倍),則使用液體導電膠。
粉末樣品制備:粉末樣品可以直接固定在導電膠帶或液體導電膠上。需要注意的是,如果使用導電膠帶,揭下的剝離紙一定要倒置擺放,撒完樣品后用剝離紙干凈的一面壓一下,以確保固定牢固。如果使用液體導電膠,建議使用水溶性的,以免與粉末樣品發(fā)生反應。
截面樣品制備:對于需要觀察截面的樣品,可以采用聚焦離子束(FIB)或者機械研磨-拋光的方式制備。FIB制備方法可以精確地切割樣品,并在切割過程中用氣體保護樣品表面不被氧化。機械研磨-拋光方法則需要對樣品進行逐級研磨和拋光,以獲得光滑的表面。
生物樣品制備:生物樣品,如細胞、組織等,需要使用特殊的制備方法以保持其天然狀態(tài)。常用的制備方法有臨界點干燥、冷凍固定、離子替換等。這些方法可以*大限度地保持樣品的原始結(jié)構(gòu),同時使樣品具有足夠的導電性以在SEM掃描電鏡中觀察。
以上是掃描電鏡的幾種樣品制備方法介紹,不同的制備方法適用于不同的樣品類型和觀察目的。在進行SEM掃描電鏡觀察前,需要根據(jù)實際情況選擇合適的制備方法。
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